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使用地物光譜儀要注意的事項
編輯:北京東方佳氣科技有限公司   時間:2022-08-02


地物光譜(pu)儀是(shi)一種高精度的儀器如何分析(xi)元(yuan)素(su)?根據(ju)發射(she)光譜(pu)的弱化(hua)程度計算待測(ce)元(yuan)素(su)的特(te)征譜(pu),首先要了解分光計的分析(xi)原理,即樣品(pin)蒸汽中被測(ce)元(yuan)素(su)的基狀(zhuang)態原子吸收(shou)。

所(suo)有元素的(de)原(yuan)(yuan)子(zi)(zi)都(dou)是由圍(wei)繞原(yuan)(yuan)子(zi)(zi)核(he)運動(dong)的(de)原(yuan)(yuan)子(zi)(zi)和電(dian)子(zi)(zi)組成(cheng)的(de),而(er)不(bu)是以能(neng)級分布的(de)原(yuan)(yuan)子(zi)(zi)核(he)。原(yuan)(yuan)子(zi)(zi)可以有不(bu)同的(de)能(neng)級。低(di)能(neng)級被(bei)(bei)稱(cheng)(cheng)為基本能(neng)級(E0=0),其它(ta)被(bei)(bei)稱(cheng)(cheng)為激(ji)發態,低(di)能(neng)激(ji)發態被(bei)(bei)稱(cheng)(cheng)為激(ji)發態。一般來說,原(yuan)(yuan)子(zi)(zi)處于基狀態,而(er)核(he)外(wai)電(dian)子(zi)(zi)以低(di)能(neng)量運動(dong)。

如果為基(ji)(ji)(ji)態(tai)(tai)(tai)原(yuan)子(zi)(zi)(zi)(zi)提(ti)供一(yi)種(zhong)外部能(neng)(neng)量,如光能(neng)(neng),當外部光能(neng)(neng)量E等于基(ji)(ji)(ji)態(tai)(tai)(tai)原(yuan)子(zi)(zi)(zi)(zi)和(he)基(ji)(ji)(ji)態(tai)(tai)(tai)原(yuan)子(zi)(zi)(zi)(zi)之間的(de)(de)能(neng)(neng)量差時(shi)(shi),原(yuan)子(zi)(zi)(zi)(zi)將(jiang)吸(xi)收(shou)具有特(te)征波長(chang)的(de)(de)光,外部電(dian)子(zi)(zi)(zi)(zi)將(jiang)從基(ji)(ji)(ji)態(tai)(tai)(tai)移動到相應的(de)(de)激發狀(zhuang)態(tai)(tai)(tai),形(xing)成原(yuan)子(zi)(zi)(zi)(zi)吸(xi)收(shou)光譜。當電(dian)子(zi)(zi)(zi)(zi)轉(zhuan)向高能(neng)(neng)量水平(ping)時(shi)(shi),電(dian)子(zi)(zi)(zi)(zi)處于激勵狀(zhuang)態(tai)(tai)(tai),但電(dian)子(zi)(zi)(zi)(zi)在激勵狀(zhuang)態(tai)(tai)(tai)時(shi)(shi)不穩定。大約10-8秒后,激勵狀(zhuang)態(tai)(tai)(tai)電(dian)子(zi)(zi)(zi)(zi)將(jiang)返回到基(ji)(ji)(ji)本(ben)狀(zhuang)態(tai)(tai)(tai)或其(qi)他(ta)低(di)能(neng)(neng)量水平(ping),并在轉(zhuan)換(huan)過(guo)程中(zhong)以光的(de)(de)形(xing)式釋(shi)放能(neng)(neng)量。這(zhe)個過(guo)程被稱(cheng)為原(yuan)子(zi)(zi)(zi)(zi)發射光譜。顯(xian)然,原(yuan)子(zi)(zi)(zi)(zi)吸(xi)收(shou)光譜吸(xi)收(shou)輻(fu)射能(neng)(neng),原(yuan)子(zi)(zi)(zi)(zi)發射光譜釋(shi)放輻(fu)射能(neng)(neng)。

地物(wu)光(guang)(guang)譜儀(yi)由光(guang)(guang)源組(zu)(zu)成(cheng)(cheng)、分光(guang)(guang)系(xi)統、檢測系(xi)統、數據處理系(xi)統由四個(ge)部分組(zu)(zu)成(cheng)(cheng)。將分析分為刺激(ji)、分光(guang)(guang)和探測三個(ge)階段(duan)。

1.激(ji)發光(guang)源蒸發樣(yang)品,使樣(yang)品分(fen)解(jie)(jie)或分(fen)解(jie)(jie)為(wei)原子(zi)狀態,原子(zi)可以進一(yi)步電離為(wei)離子(zi)狀態。燈泡中的原子(zi),離子(zi)激(ji)發發光(guang)。

2.用分(fen)光器將光源(yuan)發出(chu)的(de)光分(fen)散到不同的(de)波長。

3.利用光電器件檢測(ce)光譜,通過測(ce)量(liang)其波長來定量(liang)分析其定性或發射光強度。

使(shi)用地物光譜儀時(shi)要注(zhu)意:

1.分光器上的(de)樣品(pin)不會沉淀或懸浮,必要時(shi)會過(guo)濾(lv),極細的(de)膠水應(ying)離(li)心,避(bi)免霧化堵塞(sai)。含鹽過(guo)多(duo)的(de)樣品(pin)應(ying)在檢(jian)測前(qian)適當稀釋。

2.使用過(guo)程中,嚴格遵守儀器操作規程。特別要注意火(huo)災,保證冷卻水溫度、氬(ya)壓、泵管(guan)安裝正確、燈管(guan)干燥、線圈干燥等。

3.批量(liang)(liang)檢查(cha)樣(yang)品時(shi),注意用稀酸洗(xi)滌或去(qu)離子水清(qing)洗(xi)。高含量(liang)(liang)的單獨樣(yang)品在(zai)測(ce)量(liang)(liang)前應(ying)進行稀釋(shi),并注意清(qing)潔時(shi)間(jian)(jian),以避免污染。在(zai)特定(ding)時(shi)間(jian)(jian)插入儀(yi)器測(ce)量(liang)(liang)時(shi),中間(jian)(jian)檢測(ce)一些已知濃(nong)度的質量(liang)(liang)控制樣(yang)品,以確認測(ce)量(liang)(liang)結(jie)果在(zai)一定(ding)范圍內。如(ru)果測(ce)量(liang)(liang)結(jie)果有誤差(cha),應(ying)根據情況重(zhong)做工作曲線或停止檢查(cha)。

4.使用時(shi)應(ying)檢查(cha)儀器(qi)。預熱需要穩定(ding)的(de)常(chang)規儀器(qi)。在檢測樣品(pin)時(shi),應(ying)首先考(kao)慮其靈敏(min)度和(he)精度。多次測量溶液的(de)信號強度和(he)相對標準差是否符合(he)要求。RSD測量異常(chang)時(shi),雖(sui)然(ran)儀器(qi)的(de)靈敏(min)度有一(yi)定(ding)的(de)波(bo)動范圍,RSD異常(chang)在一(yi)定(ding)范圍內仍然(ran)是合(he)理的(de)波(bo)動范圍。


全波段地物光譜儀