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光電測試系統

光電測試系統

Inframet是一家全球知名光電測(ce)試(shi)設備制造商,能(neng)夠(gou)提供(gong)用于測(ce)試(shi)所有(you)類型的(de)光電成像(xiang)系(xi)統(tong)和(he)激(ji)光系(xi)統(tong)(紅(hong)外熱成像(xiang)儀,夜視設備,VIS-NIR相(xiang)(xiang)機(ji)(CCD / CMOS / ICCD / EBAPS)相(xiang)(xiang)機(ji)) ,SWIR相(xiang)(xiang)機(ji),UV相(xiang)(xiang)機(ji),激(ji)光測(ce)距儀,激(ji)光指示器(qi),激(ji)光照明器(qi),激(ji)光指示器(qi),多(duo)探(tan)測(ce)器(qi)監控系(xi)統(tong),融合圖(tu)像(xiang)相(xiang)(xiang)機(ji))和(he)此類系(xi)統(tong)的(de)模(mo)塊(圖(tu)像(xiang)增強(qiang)器(qi),IR FPA傳感器(qi),CCD / CMOS / EBAPS探(tan)測(ce)器(qi), 條紋管,離(li)散紅(hong)外探(tan)測(ce)器(qi))。 請查看專門針對(dui)不(bu)同類型的(de)光電成像(xiang)系(xi)統(tong)和(he)模(mo)塊的(de)章節中的(de)詳細信(xin)息。 我們的(de)研發(fa)及制造能(neng)力使(shi)Inframet能(neng)夠(gou)提供(gong)針對(dui)潛在客(ke)戶的(de)特定需求而優化的(de)各種測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)。

產品詳情

測試系統

Inframet是(shi)全(quan)球能(neng)夠提供用于測試所有(you)類型的(de)光(guang)(guang)(guang)電成像(xiang)(xiang)系統(tong)和(he)(he)激光(guang)(guang)(guang)系統(tong)(紅外(wai)熱(re)成像(xiang)(xiang)儀,夜視設備,VIS-NIR相(xiang)機(ji)(ji)(CCD / CMOS / ICCD / EBAPS)相(xiang)機(ji)(ji)) ,SWIR相(xiang)機(ji)(ji),UV相(xiang)機(ji)(ji),激光(guang)(guang)(guang)測距儀,激光(guang)(guang)(guang)指(zhi)示器(qi),激光(guang)(guang)(guang)照明(ming)器(qi),激光(guang)(guang)(guang)指(zhi)示器(qi),多探(tan)測器(qi)監控系統(tong),融合圖(tu)像(xiang)(xiang)相(xiang)機(ji)(ji))和(he)(he)此類系統(tong)的(de)模塊(kuai)(圖(tu)像(xiang)(xiang)增強器(qi),IR FPA傳感器(qi),CCD / CMOS / EBAPS探(tan)測器(qi), 條紋管,離散紅外(wai)探(tan)測器(qi))。 請查看專門針對不同類型的(de)光(guang)(guang)(guang)電成像(xiang)(xiang)系統(tong)和(he)(he)模塊(kuai)的(de)章節中的(de)詳細信息。 我(wo)們的(de)研發及制造能(neng)力使Inframet能(neng)夠提供針對潛在客戶的(de)特定需(xu)求而優化的(de)各(ge)種測試系統(tong)。




根據提供的(de)測試(shi)設備的(de)復雜程度,Inframet建議一般可分為(wei)三(san)組(zu):

  • 單一(yi)光電設備的測試(shi)系(xi)統

  • 多(duo)套(tao)光電設備的(de)測試系統(tong)

  • 光電設備的計量測試(shi)系統(tong)

單(dan)一(yi)光電(dian)設備(bei)的(de)測試(shi)系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)(例如用(yong)于測試(shi)紅(hong)外(wai)(wai)熱成(cheng)像儀的(de)DT系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong))被認為是簡單(dan)的(de)情況(kuang)。 我們(men)(men)絕大(da)多數的(de)訂單(dan)都屬于這個類(lei)型。 但(dan)是,我們(men)(men)所有(you)的(de)測試(shi)系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)都可以提供(gong)一(yi)系(xi)(xi)(xi)列不同技術復(fu)雜(za)程度的(de)版(ban)本。 因此,在(zai)該組中可以找(zhao)到用(yong)于測試(shi)短焦(jiao)距紅(hong)外(wai)(wai)熱像儀的(de)相對低成(cheng)本的(de)測試(shi)系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)以及用(yong)于測試(shi)長(chang)焦(jiao)空(kong)間應用(yong)紅(hong)外(wai)(wai)熱像儀的(de)昂(ang)貴的(de)復(fu)雜(za)的(de)測試(shi)系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)。

多套光(guang)電設(she)備(bei)的(de)測(ce)(ce)試系(xi)(xi)統通常適用于(yu)光(guang)電系(xi)(xi)統的(de)大型(xing)生產商或(huo)者維(wei)修保(bao)養(yang)車間,滿(man)足其對于(yu)一(yi)(yi)系(xi)(xi)列的(de)光(guang)電系(xi)(xi)統測(ce)(ce)試要求而只選(xuan)用單一(yi)(yi)的(de)測(ce)(ce)試設(she)備(bei)用于(yu)光(guang)電系(xi)(xi)統的(de)測(ce)(ce)試及計量。

光(guang)電(dian)設(she)(she)備(bei)的(de)計(ji)(ji)量測試(shi)系統(tong)是(shi)Inframet可以(yi)執行(xing)的(de)訂(ding)單。在這(zhe)種(zhong)情況下,Inframet提供的(de)測試(shi)所有(you)光(guang)電(dian)設(she)(she)備(bei)的(de)測試(shi)系統(tong)需要具備(bei)校(xiao)準和(he)如何使用現(xian)有(you)的(de)本地計(ji)(ji)量中心(xin)進行(xing)再校(xiao)準校(xiao)的(de)能力。通(tong)過這(zhe)種(zhong)方式,客(ke)戶(hu)所在地區實現(xian)了測試(shi)光(guang)電(dian)設(she)(she)備(bei)計(ji)(ji)量級別的(de)能力,而不依賴于外部的(de)機構。


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